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首页>产品中心>角分辨光谱测量 >角分辨光谱测量 >角分辨光谱测量台 ProSp‐RTM‐UV/VIS

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简要描述:

ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用, 如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成,我们仅需要选择测量方式、设置测量参数,调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式,即我们可以把入射臂和接收臂,运行到任意的角度位置进行光谱测量。

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产品介绍:

ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用,如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成,我们仅需要选择测量方式、设置测量参数,调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式,即我们可以把入射臂和接收臂,运行到任意的角度位置进行光谱测量。

功能描述:

1、全角度测量:接收端0-360度,发射端0-270度

2、高角度分辨率:分辨率达0.01°;

3、全光谱测量:光谱范围250-2500nm,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪;

4、不同测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式;

5、自动测量模式:通过软件设置(测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循环次数、积分时间等),实现不同模式的自动测量,中间不需人为干预;

6、手动测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量;

7、灵活的光源选择:自带钨灯光源和外接光源;

8、可扩展:可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件;

应用领域       

 

微纳光学

材料学

生物技术

矿物分析

纸币防伪

LED光源

液晶显示

材料镀膜等

 

 

 

                                                                            不同角度的反射率谱线

 

 

测量模式

反射测量(上反射/下反射)模式 透射测量模式
散射/荧光测量模式 辐射测量模式

 

 

参数指标

参数/型号

ProSp-RTM-UV

ProSp-RTM-VIS

光谱范围

250-2500nm

250-2500nm

光源

选配,SMA905光纤接口

内置钨灯光源(360-2500nm)可外接其它光源

光斑大小

可调,最小1.5mm

可调,最小1.5mm

入射光发散角

<1.5°

<1.5°

入射角范围

0-270°

0-350°

接收角范围

0-360°

0-360°

角度分辨率

0.1°

0.1°

样品台

三维调节

三维调节

滤波片架

包含2个滤波片架,分别在于入射和接收光路上,可以放置直径12.7mm
滤波片、波片和偏振片

旋转偏振片架

选配

 

选配产品

光谱仪

USB2000+VIS-NIR-ES

350-1000nm

QEPRO-FL

350-1000nm

NIRQUEST512-2.5

900-2500nm

光源

DH-2000-BAL

220-2500nm

HL-2000-LL

360-2500nm

偏振片

PLine-VIS-A

400-700nm

PLine-VIS-B

600-1100nm

PLine-VIS-NIR

650-2000nm

PLine-NIR-A

1050-1700nm

PLine-NIR-B

1000-3000nm

 

 

可定制显微光谱角分辨系统

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